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菲希尔X射线测厚仪FISCHER XULM240

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XULM240

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菲希尔 XULM240 是一款紧凑、高精度、多功能的 X 射线荧光 (XRF) 镀层测厚与材料分析仪器,专为微小零件和精细结构的无损检测设计,广泛应用于电子、电镀、汽车等行业的质量控制与生产监控。

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XULM240的详细资料:

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心功能特点

微聚焦精准测量:微聚焦 X 射线管配合电动切换准直器,可精准测量0.1mm 微小区域,特别适合半导体芯片金线镀层、精密传感器电极、连接器触点等微型结构

高计数率与快速检测:比例计数器实现数千 cps(每秒计数率)的高计数率,大幅缩短测量周期,提高检测效率

灵活的测量模式:

支持单金属镀层、合金镀层、双镀层(含合金层) 厚度测量

基本参数法无需标准样品即可分析固体 / 液体样品及镀层系统

从下至上的射线方向,便于测量不规则形状工件

模块化设计:可更换滤片和准直器,适配不同测量任务,降低总体拥有成本

安全防护:通过认证的全防护装置,确保操作安全Helmut Fischer

直观操作:WinFTM® 软件提供友好界面,支持数据管理、报告生成和统计分析



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