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菲希尔X射线测厚仪 XULM240
菲希尔X射线测厚仪FISCHER XULM240核心技术参数
测量原理:能量色散型 X 射线荧光(EDXRF)。
元素范围:可分析 Ca(20) 至 U(92) 的元素。
测量方向:从下向上照射,方便放置样品。
X射线管:微聚焦钨靶管(50kV/50W)。
探测器:比例计数管(PC),适合快速测量复杂形状。
准直器/滤片:4 个自动切换准直器(最小 0.05x0.05mm) + 3 个自动切换基本滤片。
测量范围:镀层厚度约 0.005-50μm(可测 50nm 金层)。
精度:标准校准下约 ±5%;无标样约 ±10%。
样品空间:最大高度 17cm。
软件系统:采用 WinFTM® 专业软件,支持基本参数法(FP法),无需标准片即可分析成分。
典型应用:常用于电子连接器、PCB 焊盘、五金电镀(如 Cr/Ni/Cu)以及锌镍合金防腐镀层的检测。