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菲希尔XDLM237 X荧光射线镀层测厚仪
菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDLM237关键硬件规格
- X 射线源:微聚焦钨靶 X 射线管
- 检测器:比例计数管(PC 探测器,高速计数)
- 测量光斑:最小 Ø0.1mm,微小焊盘、引脚、端子均可测
- 光阑(4 档自动切换):0.1mm / 0.3mm / 0.6mm / 狭缝 0.5×0.15mm
- 初级滤光片:3 片自动切换(Ni/Al/ 无滤光)
- 载台:程控电动 XY + 电动可编程 Z 轴;DCM 距离补偿,样品高度变化无需反复校准
- 样品最大高度:140 mm
- 视觉定位:高清彩色摄像头 + 1 类激光定位指针,十字线对准测点
- 机壳带 C 型开槽:可直接测大尺寸 PCB,无需裁板
- 元素分析范围:Al (13) ~ U (92),可同时分析最多 24 种元素,支持多层镀层测厚 + 材料成分分析
- 执行标准:ISO 3497、ASTM B568;X 射线全防护型式认证,IP40 防护,230V 供电,整机功耗≤120W(不含电脑)