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菲希尔、X射线测厚仪、XULM240
  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-10-30
  • 访  问  量:2290
简要描述:

菲希尔、X射线测厚仪、XULM240,德国 Helmut Fischer 台式 XRF 镀层测厚仪(微聚焦款,XUL/XULM 系列),主打微小点位无损镀层测厚 + 简单成分分析,端子、连接器、PCB、小五金电镀行业非常主流的入门微斑机型

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产品详情

菲希尔、X射线测厚仪、XULM240

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心参数

- X 射线源:铍窗口钨靶微聚焦管,50kV / 50W

- 探测器:比例计数管(PC),计数率高、测速快

- 准直器:4 组电动自动切换

  - 标配:Ø0.1 mm、Ø0.2 mm、0.05×0.05 mm、0.2×0.03 mm

  - 最小光斑:Ø0.1 mm(100μm),适合触点、引脚、微小线路

- 初级滤片:3 片自动切换(Ni / Al / 无滤片),自动匹配镀层元素

- 测量距离:0–27.5 mm 可调

- 载台:手动 XY 工作台,行程 30×40 mm;样品仓 C 型开口,样品最大高度 170 mm,可放大板 / 长件

- 视觉定位:同轴彩色摄像头,十字靶标 + 刻度标尺,实时看测量位置

- 配套软件:WinFTM®(LIGHT 基础版 / BASIC / SUPER 高级版可选);支持多层镀层拟合、SPC 统计、数据导出、成分分析,支持基本参数法(无标样拟合)

- 合规:全封闭 X 射线防护,符合德国 X 射线法规


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