菲希尔X射线测厚仪XAN500的详细资料：

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500技术亮点：

"二合一" 测量：一次测量同时获取涂层厚度和成分分析结果，大幅提升检测效率

三点支撑系统：确保仪器稳定放置，减少测量误差，提高重复性

高性能 SDD 探测器：硅漂移检测器，能量分辨率≤160eV，可精确识别从硫 (S) 到铀 (U) 的元素

超薄涂层测量：精度可达 ±0.1μm，可测微米甚至纳米级镀层

无需校准：采用基本参数法，可直接测量未知样品，简化操作流程

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500技术参数全解

参数规格

测量原理能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF)

探测器高分辨率硅漂移检测器 (SDD)

X 射线管钨靶， 40kV/4W

测量光斑直径 3mm

测量精度镀层厚度 ±0.1μm

元素范围硫 (S,16) 到铀 (U,92)，最多同时测定 24 种元素

防护等级IP54 (防尘防溅水)，适合户外使用

重量1.9kg (不含配件)，轻便易携

电池续航一次充电可连续工作 6 小时

工作温度0-40℃

数据接口USB、蓝牙 (连接平板或 PC)