菲希尔测厚仪XDL230，菲希尔X射线镀层测厚仪，FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，FISCHER代理

菲希尔测厚仪XDL230

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪作为一款高性能能量色散型 X 射线荧光设备，集镀层测厚与材料分析功能于一体，广泛应用于无损检测领域。无论是镀层厚度测量、材料成分剖析，还是溶液成分分析，或是大规模生产零部件及印刷线路板的镀层检测，它都能轻松胜任。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪该测厚仪具备长期稳定性，大幅减少校准频次，降低使用成本。其比例接收器可实现高计数率，确保测量结果精准可靠；FISCHER 基本参数法的应用，使仪器无需标准片，就能对镀层系统、固体及液体样品进行高效测量分析，特别适用于质量控制、进料检验和生产流程监控等场景。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪在自动化检测方面，配备可编程 XY 工作台的版本，可实现系列测试自动化。仪器能便捷扫描样品表面，精准检测镀层均匀性。测量门开启时，XY 工作台自动移至加载位，激光点同步指示测量点，便于快速定位样品。针对大尺寸平整样品（如线路板），侧面开口的 C 形槽设计，极大提升装载便利性。宽敞的测量室可容纳高度达 140mm 的复杂形状样品；部分型号 Z 轴支持电动调节，测量距离可在 0-80mm 自由设定，配合 DCM 方法，能轻松完成腔体内部、表面不平整物体的测量任务。