DualScope FMP20的详细资料：

DualScope FMP20

测量范围：测量范围：磁性：0-1200 μm，涡流，0-800 μm,

测量精度：0～100μΜ：0.5μΜ，100～1200μΜ：0.5％

菲希尔FD13H测量探头
菲希尔FD13H测量探头用于根据磁感应和涡流方法来测量涂镀层厚度，带微处理芯片的智慧型插入式探头，弹性测量系统。
电缆长度：1.5m
测量范围：0-2000 um NF/Fe，0-2000 um Iso/NF
测量误差：0-50um：≤1um，50-1000um：≤2%，1000-2000um：≤3%
重复精度：0-100um：≤0.5um， 100-2000um：≤0.5%
菲希尔FD13H测量探头包括：Fe 基材，Al 基材，各两片标准片

DualScope FMP20特性
• 可连接所有磁感应和电涡流探头
• 自动识别探头
• 自动识别基材(FMP20)
• 用户友好操作界面
• USB接口可连接计算机
• 240x160像素的大尺寸、高对比度显示器
• 通电后即可开始测量
• 放置探头后自动获得测量数据
• 可储存1000个测量数据
• 获得测量数据后有声音信号
• 统计评估功能，例如：平均值、标准偏差、小
值、大值、范围
• 通过ZERO键校零可快速减少样品形状的影响
• 另外用1或2片标准片校准仪器，可进一步减少形状
影响
• 如果材质和几何形状差别很大，可通过主校准建立
准确的特征曲线
• 主校准信息储存在探头内
• 两种测量单位：μm和mils
• 仪器自动关机或连续操作的时间可调节

工作原理：

磁感应测量原理

采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。

电涡流测量原理

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

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