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泰勒霍普森、粗糙度仪、SURTRONIC DUO
技术参数(DUO II 规格)
测量原理:压电传感器,金刚石触针
触针:5μm 半径,90° 锥角;测力 10mN(1gf)
行程:5 mm;扫描速度:2 mm/s
截止波长(Cut-off):0.8mm(高斯滤波,ISO 4287 标准)
测量范围
Ra:0 ~ 40 μm
Rz/Rt/Rp/Rv:0 ~ 199.9 μm
分辨率:0.01 μm
示值误差:±(5% 读数 + 0.1 μm)
输出参数:Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、Rsk、Rku、Rz1max(ISO4287)
单位切换:μm / μin
供电:锂电池,单次充满≥2000 次测量;Mini USB 充电
标准配置:主机、校准标准块 RCG-H10、充电线、便携包
四、通讯与数据
蓝牙(无线分体通信)
USB 接口:充电、连接电脑导出测量数据
可存储多组测量记录,屏幕回看轮廓图形