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泰勒霍普森、粗糙度仪、SURTRONIC DUO
  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-07-29
  • 访  问  量:2962
简要描述:

泰勒霍普森、粗糙度仪、SURTRONIC DUO,英国 Ametek Taylor Hobson 手持触针式粗糙度仪,分体无线结构是核心卖点;车间现场质检、来料检验、大型工件现场检测主力机型,对标三丰 SJ-210/310、马尔 PS10、同品牌 S128。
区分:初代 Surtronic DUO;升级款 Surtronic DUO II(目前主流在售型号)

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产品详情

泰勒霍普森、粗糙度仪、SURTRONIC DUO

技术参数(DUO II 规格)

测量原理:压电传感器,金刚石触针

触针:5μm 半径,90° 锥角;测力 10mN(1gf)

行程:5 mm;扫描速度:2 mm/s

截止波长(Cut-off):0.8mm(高斯滤波,ISO 4287 标准)

测量范围

Ra:0 ~ 40 μm

Rz/Rt/Rp/Rv:0 ~ 199.9 μm

分辨率:0.01 μm

示值误差:±(5% 读数 + 0.1 μm)

输出参数:Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、Rsk、Rku、Rz1max(ISO4287)

单位切换:μm / μin

供电:锂电池,单次充满≥2000 次测量;Mini USB 充电

标准配置:主机、校准标准块 RCG-H10、充电线、便携包

四、通讯与数据

蓝牙(无线分体通信)

USB 接口:充电、连接电脑导出测量数据

可存储多组测量记录,屏幕回看轮廓图形


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