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泰勒霍普森便携式粗糙度仪测量能力
参数覆盖：支持 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt 等基础粗糙度参数，以及 Rq（均方根值）、Rsk（偏斜度）、Rku（峰度）等进阶参数，共 11 项参数满足不同行业标准（如 ISO 4287、ASME B46.1）。
测量范围：Ra 可达 40μm，Rz/Rv/Rp/Rt 可达 199μm，分辨率 0.01μm，精度为读数的 5% + 0.1μm，噪声水平低至 0.02μm。
传感器技术：采用压电式传感器和 5μm 金刚石测针，耐磨性强，适合长期高频次使用。
设计与操作
分体式结构：显示控制单元与驱动单元通过蓝牙无线连接，可分离使用，便于测量深孔、曲面等复杂位置（如内径 70mm 的孔或倒置表面）。
直观界面：2.4 英寸彩色 LCD 屏幕实时显示测量结果及轮廓图形，支持三种显示模式（参数 + 图形、纯参数、大字体参数）。
一键测量：简化操作流程，单次测量仅需按下按钮，结果自动计算并显示。
泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度仪
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