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泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度仪

泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度仪

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泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度仪的详细资料:

泰勒霍普森便携式粗糙度仪测量能力

参数覆盖:支持 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt 等基础粗糙度参数,以及 Rq(均方根值)、Rsk(偏斜度)、Rku(峰度)等进阶参数,共 11 项参数满足不同行业标准(如 ISO 4287、ASME B46.1)。

测量范围:Ra 可达 40μm,Rz/Rv/Rp/Rt 可达 199μm,分辨率 0.01μm,精度为读数的 5% + 0.1μm,噪声水平低至 0.02μm。

传感器技术:采用压电式传感器和 5μm 金刚石测针,耐磨性强,适合长期高频次使用。

设计与操作

分体式结构:显示控制单元与驱动单元通过蓝牙无线连接,可分离使用,便于测量深孔、曲面等复杂位置(如内径 70mm 的孔或倒置表面)。

直观界面:2.4 英寸彩色 LCD 屏幕实时显示测量结果及轮廓图形,支持三种显示模式(参数 + 图形、纯参数、大字体参数)。

一键测量:简化操作流程,单次测量仅需按下按钮,结果自动计算并显示。

泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度仪

泰勒霍普森SURTRONIC DUO、粗糙度仪


测量能力
参数覆盖:支持 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt 等基础粗糙度参数,以及 Rq(均方根值)、Rsk(偏斜度)、Rku(峰度)等进阶参数,共 11 项参数满足不同行业标准(如 ISO 4287、ASME B46.1)。
测量范围:Ra 可达 40μm,Rz/Rv/Rp/Rt 可达 199μm,分辨率 0.01μm,精度为读数的 5% + 0.1μm,噪声水平低至 0.02μm。
传感器技术:采用压电式传感器和 5μm 金刚石测针,耐磨性强,适合长期高频次使用。
设计与操作
分体式结构:显示控制单元与驱动单元通过蓝牙无线连接,可分离使用,便于测量深孔、曲面等复杂位置(如内径 70mm 的孔或倒置表面)。
直观界面:2.4 英寸彩色 LCD 屏幕实时显示测量结果及轮廓图形,支持三种显示模式(参数 + 图形、纯参数、大字体参数)。
一键测量:简化操作流程,单次测量仅需按下按钮,结果自动计算并显示。

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