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便携式粗糙度仪SURTRONIC DUO泰勒霍普森
SURTRONIC DUO 是英国泰勒霍普森 (Taylor Hobson) 推出的便携式表面粗糙度测量仪,分为经典款与升级款Duo II,采用创新的分体式双模块架构:显示 / 控制单元与驱动测量单元物理分离,通过蓝牙实现无线通讯,可一体操作或分开使用适配难测位置Taylor Hobson。
测量原理:耐磨金刚石测针 + 精密机动导程机构 + 高灵敏度压电传感器,将表面轮廓机械位移转化为电信号,经微处理器按标准算法计算 Ra、Rz 等参数,提供可追溯测量结果与轮廓图形Taylor Hobson
泰勒霍普森便携式粗糙度仪
