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泰勒霍普森便携式粗糙度仪SURTRONIC DUO
泰勒霍普森便携式粗糙度仪SURTRONIC DUO核心特点
分体式结构(最大特色)
显示单元与驱动测量单元可滑扣分离,蓝牙无线通信;测量头放工件,手握着显示屏读数,适合深腔、狭小、垂直 / 倒置位置测量,也可合体单手操作。
一键测量,5 秒出结果,InstantOn 快速开机,2.4 英寸彩色 LCD,同时显示粗糙度参数 + 轮廓曲线图,强光车间可读。
触针配置:金刚石测针,针尖半径 5μm,滑行块 Skidded(带滑块),压电传感器,测力 10mN (1gf)。
防护机身:IP54,橡胶抗摔外壳,抗切削液、粉尘,整机约 400g。
数据:蓝牙 + Mini‑USB;存储测量数据,导出 PDF 报告、CSV,对接 SPC 质量系统;锂电,满电上万次测量。
标准:ISO4287,支持 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt、Rq、Rsk、Rku、Rz1max 等参数。