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泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S100|泰勒

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S100|泰勒

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泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S100|泰勒的详细资料:

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S100|泰勒

SURTRONIC  S116 粗糙度仪能够为您的粗糙度测量需求提供多种解决方案, 包括多样化的系统和应用相关的配件,  并且能够为您的特殊需求定制工装。耐冲击性橡胶化塑性整个机身, 聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性,抗磨损的齿轮和轴承坚固的不锈钢驱动机构。  大容量锂聚合物电池, 一次充电后可进行至少2000次测量。即开即用能够让仪器在待机状态下1秒即可启用测量, 充满电后待机能力长达5000个小时。
任何表面, 任何高度。 包括一个50mm长的测针升降装置和直角附件,以及深达70mm的测量能力, 在不需要昂贵的垫块、支架或工装的情况下, 对具挑战性的测量位置进行检测。 防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。 测针还能够反方向底部测量。
像其它导航或智能手机一样, 拥有4.3寸大尺寸触屏, 易读性强。 一页上可显示多至7个参数。可将屏幕旋转四个方向。 轻触快捷键即可进行所有关键设置。A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。 迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。
泰勒•霍普森有限公司专业从事超高精度表面及其轮廓形状测量,是全球优越的圆度/圆柱度仪、表面粗糙度轮廓仪、白光干涉表面轮廓仪及超精单点金刚石车床等设备的供应商,总部位于英国莱斯特市,我们提供接触与非接触测量方法以满足多种应用需求,公司产品广泛应用于现代制造业及新兴产业,如半导体、硬盘、精密光学、微纳米学等。
SURTRONIC S116 粗糙度仪

一、S116标准配置:
显示单元;112-1502标准测针;测针连接线;多刻线样板;测针提升机构;USB接口充电器;使用手册;USB通讯电缆;仪器箱

二、技术参数

数据显示 :

显示屏每页显示7个测试结果,屏幕上可显示轮廓图(剖面图)

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑,分析测试结果

数据存储:

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘大4G,多可存储39,000个图形,每批可存储10万个测试结果,共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

电源:

充电器 :USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充电时间:4小时

电池寿命:充电一次可以做2000次测试

待机时间:5000小时

由待机状态到开机测试状态,长时间不超过1秒I

自动关机:30秒– 6小时可以自行设置

三、技术指标:

测量范围:200 um 100 um 10 um 

分辨率:  100 nm 20 nm 10 nm 

底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm 

重复精度 (Ra) :1%测试值+底噪

传感器原:电感

测量力:150-300mg

测针针尖半径:标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式:滑动扫描

校准:

自动软件校准    标准:ISO4287

四、测试参数:

三个取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器:2CR、Gaussian

评定长度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

大行程:17.5mm

测试速度:

测试速度:1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数:

执行标准:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 :R3z (Daimler Benz)

测试单位:um/uin

五、可选附件

测试平台:

00级大理石平板:400X250X70mm

有效高度:280mm。


可调Y轴V型铁

可调范围:±5mm

V型铁长度100mm


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