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便携式泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO

便携式泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO

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快速精准测量:采用金刚石测针与压电传感器技术,通过机械垂直移动转化为电子信号,结合标准化算法实时计算粗糙度参数(如Ra、Rz、Rp、Rv、Rt等)

便携式泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO的详细资料:

泰勒霍普森便携式粗糙度仪SURTRONIC S128关键技术参数

测量范围:Ra 0.1μm-40μm(标准配置),扩展至199μm(需特定型号)

精度:Ra和Rz精度均为±0.1μm

行程与取样长度:行程5mm,取样长度0.8mm±15%

续航能力:内置锂电池支持单次充电2000+次测量,可选配太阳能移动电源

应用领域

重工业:造船、管道、钢板检测

航空航天:涡轮叶片、机翼复合材料磨损监测

其他场景:印刷辊、地板、玻璃制造等生产线质量控制

维护与校准

校准标准:标配双校准盖,用于仪器校准和测针磨损检查,确保测量可追溯性


关键技术参数
测量范围:Ra 0.1μm-40μm(标准配置),扩展至199μm(需特定型号)
精度:Ra和Rz精度均为±0.1μm
行程与取样长度:行程5mm,取样长度0.8mm±15%
续航能力:内置锂电池支持单次充电2000+次测量,可选配太阳能移动电源
应用领域
重工业:造船、管道、钢板检测
航空航天:涡轮叶片、机翼复合材料磨损监测
其他场景:印刷辊、地板、玻璃制造等生产线质量控制
维护与校准
校准标准:标配双校准盖,用于仪器校准和测针磨损检查,确保测量可追溯性


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