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ElektroPhysik测厚仪校准程序-MINITEST 3100

ElektroPhysik测厚仪校准程序-MINITEST 3100

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ElektroPhysik测厚仪校准程序-MINITEST 3100
校准有五种不同的方法:
1.标准校准:推荐用于均匀表面上的测量,如果物体与ElektroPhysik零板具有相同的材料,尺寸和冲击度。
2.单点校准(无需使用振动箔调零):如果允许误差p为±(读数的3%*加上探头的常数误差),则推荐使用。 (恒定探针的实例:F.1.6:1μm)。
3.两点校准(使用校准箔进行校准和校准):如果预

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ElektroPhysik测厚仪校准程序-MINITEST 3100

 

(一)校准有五种不同的方法:
1.标准校准:推荐用于均匀表面上的测量,如果物体与ElektroPhysik零板具有相同的材料,尺寸和冲击度。
2.单点校准(无需使用振动箔调零):如果允许误差p为±(读数的3%*加上探头的常数误差),则推荐使用。 (恒定探针的实例:F.1.6:1μm)。
3.两点校准(使用校准箔进行校准和校准):如果预期的读数将接近校准值,则推荐探针的允许误差为±(1%... 3%读数*(根据探头)加恒定探头误差)*参照实验室条件下提供的校准标准。
4.两点校准(使用一组两个校准箔):

  •      a)推荐用于粗糙表面上的测量。
  •      b)如果要预期的厚度在两个校准箔的厚度之间,建议在光滑表面上进行测量。

5.通过涂层(CTC)进行校准:使用校准箔校准。如果测试样品被涂覆并且没有未涂覆的样品可用于比较,则推荐使用。该方法适用于以下探针:F05,F1.6,F3和FN1.6(仅含铁部件),F1.6 / 90,F2 / 90,F10,F20和F50。

(二)存储校准值
如果仪表为特定目的进行校准,则校准值将存储在存储器中,直到更改为止(参见4.1.8校准值的稳定性)。如果要对某个探头进行校准,只需进行重新校准即可。 这将自动删除以前的校准值,并保存新的校准值以便立即使用。

校准程序应从头开始重新启动,如果

  • 读取不正确
  • 输入了不正确的命令
  • 仪表已关闭

(三)校准示例
校准是测量的zui重要的要求。 校准样品与产品样品匹配越紧密,校准越准确,因此读数越高。 例如,如果要在钢瓶上测量产品,则质量ST37(软钢),ø6 mm,未涂覆样品的校准必须在相同质量的钢制圆筒上进行,直径相同。
校准样品必须以下列方式对应产品样品:

  • 曲率半径
  • 基材特性
  • 基板厚度
  • 测量面积大小
  • 进行校准的点

校准样品必须始终与产品本身的测量点相同,特别是在小零件的拐角和边缘的情况下。 精准台在这里将是无价的。 有关详细信息,请参阅技术数据。


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