MiniTest 7400测厚仪精密支架的详细资料：

德国EPK MiniTest 7400测厚仪

涂层测厚仪：

采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.

特征：

• 统计过程控制
• 加硬探头顶部
• 高度钢球确保测量的重现性
• 每秒读数多达20个
• 内置数字信号处理传感器
• 多点校准可达5点
• 大面积易读数显示屏
• 显示zui小zui大值
• 菜单控制界面
• 上下关联的在线帮助

探头技术参数：

1.多点校准,在实验室条件下符合提供的标准

2.零点校准，并且校准值和预期的涂层厚度接近

3.使用精密支架，不适用HD探头

4.如果选择“快速”，测量速度主要取决于操作

5.根据 DIN 55350第13部分

6.多点校准值优于获得的数据.

7.包括涂层

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